とみやす   ぶんぶのしん

冨安 文武乃進


東京大学 環境安全研究センター 助教


連絡先

 住所 113-0033 東京都文京区本郷7-3-1 東京大学環境安全研究センター
 電話 03-5841-2982, 内線 22982, e-mail bunbu@esc.u-tokyo.ac.jp
Last Revised on May. 30, 2002

Japanese / Engilsh(準備中)

略歴

1989年 3月 防衛大学校理工学部応用化学科 卒業

1990年11月 東京大学生産技術研究所 文部技官
   1996年 3月 日本鉄鋼協会俵論文賞 受賞
   2000年11月 日本表面科学会技術賞 受賞
   2001年 1月 東京大学論文博士(工学) 取得

2002年 5月 東京大学環境安全研究センター 助手



高精細微粒子分析法の開発と応用

〜マイクロビームアナリシス法を用いた,環境微粒子・機能微粒子材料の評価〜



査読付きの原著論文

  1. TOF-SIMS Measurements for Toxic Air Pollutants Adsorbed on the Surface of Airborne Particles;
    B.Tomiyasu, T.Hoshi, M.Owari and Y.Nihei, App. Surf. Sci., (in press)

  2. Nano-Scale SIMS Analysis as a New Local Analysis of Next Generation;
    M.Nojima, B.Tomiyasu, Y.Kanda, M.Owari and Y.Nihei, App. Surf. Sci., (in press)

  3. ディーゼル排気微粒子などを含む大気環境微粒子のキャラクタリゼーション法の開発;
    冨安文武乃進, 小倉郁史, 竹内勇人, 尾張真則, 二瓶好正, 分析化学, 50(4), pp.237-245, 日本分析化学会 2001.4

  4. Individual Particle Analysis for Source Apportionment of Suspended Particulate Matter using Electron Probe Microanalysis;
    B.A.Kim, B.Tomiyasu, M.Owari and Y.Nihei, Surf. Interface Anal., 31, pp.106-113, John Wiley & Sons 2001.3

  5. Shave-off Depth Profiling of Multi-Layer Samples using a Gallium Focused Ion Beam SIMS
    B.Tomiyasu, S.Sakasegawa, T.Toba, M.Owari and Y.Nihei, Secondary ion mass spectrometry SIMS XII, eds. A.Benninghoven, P.Bertrand, H.N.Migeon and H.W.Werner, pp.473-476, John Wiley & Sons 2000.9

  6. 破壊的局所分析法の多元素同時測定による定量精度の向上;
    冨安文武乃進, 尾張真則, 二瓶好正, 分析化学, 49(8), pp.593-598, 日本分析化学会 2000.8

  7. ナノスケールFIB-SIMS装置の試作研究;
    野島雅, 冨安文武乃進, 柴田俊男, 尾張真則, 二瓶好正, 表面科学, 21(8), pp.511-516, 日本表面科学会 2000.8

  8. サブミクロンSIMS法におけるshave-off深さ方向分解能の向上;
    冨安文武乃進, 逆瀬川聡, 鳥羽貴光, 尾張真則, 二瓶好正, 表面科学, 20(8), pp.523-529, 日本表面科学会 1999.8

  9. High Spatial Resolution 3D Analysis of Materials using Gallium Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry (FIB SIMS);
    B.Tomiyasu, I.Fukuju, H.Komatsubara, M.Owari and Y.Nihei, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 136-138(8), pp.1028-1033, Elsevier 1998.4

  10. 化学形態計測(主にX線マイクロアナライザー(EPMA)、蛍光X線分析、非破壊X線分析顕微鏡(X線透過機能付き微小部蛍光X線分析))による環境および生体試料中微量元素のイメージング適用経験例(第3報);
    二木安之, 冨安文武乃進, 二瓶好正, 信州医学雑誌46(4), p.297, 1998.4

  11. Elemental Imaging of Cross-sectioned Individual Particles by Ga+ Focused Ion Beam SIMS;
    B.Tomiyasu, H.Komatsubara, I.Fukuju, M.Satoh, M.Owari and Y.Nihei, Secondary ion mass spectrometry SIMS XI, eds. G.Gillen, R.Lareau, J.Bennett and F.Stevie, pp.1069-1072, John Wiley & Sons 1998.2

  12. Depth Profiling of Doped Element in a Micro Particle by Ga+ Focused Ion Beam SIMS;
    B.Tomiyasu, H.Komatsubara, M.Satoh, S.Sakasegawa, M.Owari and Y.Nihei, Secondary ion mass spectrometry SIMS XI, eds. G.Gillen, R.Lareau, J.Bennett and F.Stevie, pp.383-386, John Wiley & Sons 1998.2

  13. Microanalysis by Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry (FIB-SIMS);
    Y.Nihei, B.Tomiyasu, T.Sakamoto and M.Owari,J.Trace and Microprobe Techniques, 15(4), pp.593-599, Marcel Dekker Inc., 1997.10

  14. Individual Particle Analysis of Nonmetallic Inclusion in Steel by Ga+ Focused Ion Beam SIMS;
    B.Tomiyasu, T.Shibata, M.Owari and Y.Nihei,Secondary ion mass spectrometry SIMS X, eds. A.Benninghoven, B.Hagenhoff and H.W.Werner, pp.177-180, John Wiley & Sons, 1997.3

  15. Individual Particle Analysis of Suspended Particulate Matter by Ga+ Focused Ion Beam SIMS and Electron Probe Microanalysis;
    T.Sakamoto, B.Tomiyasu, K.Katsumata, M.Owari, N.Jingu and Y.Nihei, Secondary ion mass spectrometry SIMS X, eds. A.Benninghoven, B.Hagenhoff and H.W.Werner, pp.185-188, John Wiley & Sons, 1997.3

  16. Comparison Between Suspended Particulate Matter of Urban Sites in Jakarta and Tokyo using Portable Sampler and Electron Probe Microanalysis;
    B.Tomiyasu, Y.Hasegawa, M.Kanayama, M.Owari and Y.Nihei, ECASIA'95, eds. H.J.Mathies, B.Reihl and D.Briggs, pp.369-372, John Wiley & Sons, 1996.9

  17. Simulation of Erosion of a Particle by Ion Bombardment;
    T.Sakamoto, B.Tomiyasu, M.Owari and Y.Nihei, ECASIA'95, eds. H.J.Mathies, B.Reihl and D.Briggs, pp.639-642, John Wiley & Sons, 1996.9

  18. サブミクロン二次イオン質量分析装置を用いたチタン添加極低炭素鋼中の非金属介在物粒子のキャラクタリゼーション;
    冨安文武乃進, 柴田達也, 尾張真則, 二瓶好正, 分析化学, 45(6), pp.485-492, 日本分析化学会, 1996.6

  19. 電子プローブマイクロアナリシス法及び二次イオン質量分析法による大気浮遊粒子状物質の同一粒子分析;
    坂本哲夫, 冨安文武乃進, 神宮信康, 尾張真則, 二瓶好正, 分析化学, 45(6), pp.479-484, 日本分析化学会, 1996.6

  20. 電子線マイクロアナライザーを用いた地下街浮遊粒子状物質の粒別起源解析;
    冨安文武乃進, 荒井直昭, 小山英樹, 劉国林, 尾張真則, 二瓶好正, 日本化学会誌, 1996(5), pp.500-507, 日本化学会, 1996.5

  21. X線分析による組織および臓器中微量元素の二次元イメージングと機能評価;
    二木安之, 二瓶好正, 冨安文武乃進, 日本臨床, 54(1), pp.192-201, 1996.1

  22. サブミクロン二次イオン質量分析装置を用いた鋼中非金属介在物粒子の粒別分析;
    冨安文武乃進, 稲見晃宏, 阿部雅一, 二瓶好正, 鉄と鋼, 81(10), pp.977-982, 日本鉄鋼協会, 1995.10

  23. イヌ鼻腔内組織のX線マイクロアナライザー(EPMA)測定例;
    星加安之, 冨安文武乃進, 二瓶好正, Biomed Res Trace Elements, 6(3), pp.305-306, 1995.3

  24. Micro Cross-sectioning and Quantitative Estimation of Internal Vacancy of Inorganic Microcapsules by Gallium Focused Ion Beam SIMS;
    B.Tomiyasu, M.Owari and Y.Nihei, Secondary ion mass spectrometry SIMS IX, eds. A.Benninghoven, Y.Nihei, R.Shimizu and H.W.Werner, pp.565-568, John Wiley & Sons, 1994.10

  25. Determination of Carbon in Inorganic Micro Particles by Gallium Focused Ion Beam SIMS;
    B.Tomiyasu, N.Mie, M.Owari and Y.Nihei, Secondary ion mass spectrometry SIMS IX, eds. A.Benninghoven, Y.Nihei, R.Shimizu and H.W.Werner, pp.848-851, John Wiley & Sons, 1994.10

  26. Ambient Oxygen Effect in Ga+ FIB SIMS;
    T.Sakamoto, B.Tomiyasu, M.Owari and Y.Nihei, Surf. Interface Anal., 22, pp.106-110, John Wiley & Sons, 1994.10

  27. Mesurements and Model Calculation of Ambient Oxygen Effect on Secondary Ion Enhancement in Gallium Focused Ion Beam SIMS;
    T.Sakamoto, B.Tomiyasu, N.Mie, M.Owari and Y.Nihei, Secondary ion mass spectrometry SIMS IX, eds. A.Benninghoven, Y.Nihei, R.Shimizu and H.W.Werner, pp.53-56, John Wiley & Sons, 1994.10

  28. Electron Probe Micro Analysis (EDS-EPMA) and Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) of Finger Nail Melanonychia;
    Y.Hoshika, B.Tomiyasu, Y.Nihei and M.Owari, Secondary ion mass spectrometry SIMS IX, eds. A.Benninghoven, Y.Nihei, R.Shimizu and H.W.Werner, pp.832-835, John Wiley & Sons, 1994.10

  29. 粒別分析による都市人工空間における浮遊粒子状物質の起源解析;
    劉国林, 冨安文武乃進, 尾張真則, 二瓶好正, 杉本伸幸, 内山俊一, 環境科学会誌, 7(1), pp.53-58, 環境科学会, 1994.3

  30. Micro Cross-sectioning and Mulutielement Parallel Mapping of Microstructures by Gallium Focused Ion Beam SIMS;
    M.Owari, H.Satoh, B.Tomiyasu and Y.Nihei, Secondary ion mass spectrometry SIMS VIII, eds. A.Benninghoven, K.T.F.Janssen, J.Tumpner and H.W.Werner, pp.545-548, John Willey & Sons, 1992.9

  31. Submicron Secondary Ion Mass Spectrometer for Three-dimensional Analysis of Microstructure;
    Y.Nihei, H.Satoh, B.Tomiyasu and M.Owari, Anal.Sci., 7, Suppl., pp.527-532, 日本分析化学会, 1991

  32. ガリウム収束イオンビームを用いたサブミクロン二次イオン質量分析装置による無機マイクロカプセルの三次元分析;
    冨安文武乃進, 佐藤仁美, 尾張真則, 二瓶好正, 分析化学, 40(11), pp.629-633, 日本分析化学会, 1991.11


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